測(cè)量顯微鏡的正常使用
a. 尋找像平面
⑴針尖試樣應(yīng)采用“光點(diǎn)找像法”。
一般顯微硬度計(jì)測(cè)量顯微鏡物方視場(chǎng)只有O．25～0．35mm， 在此視場(chǎng)范圍外區(qū)域 在測(cè)量顯微鏡目鏡視場(chǎng)內(nèi)，眼睛是看不見的。而針尖類試樣頂 尖往往小于0．1 mm，所以在安裝調(diào)節(jié)試樣時(shí)，很難把此頂 尖調(diào)節(jié)在視場(chǎng)內(nèi) ；如果此頂 尖在視場(chǎng)周圍而不在視場(chǎng)內(nèi)，則在升降工作臺(tái)進(jìn)行調(diào)節(jié)時(shí)不小心就會(huì)把物鏡鏡片頂壞，即使不頂壞物鏡，找像也很困難 為解決這個(gè)問題，提出“光點(diǎn)找像法 方法。
開啟測(cè)量顯微鏡的照明燈泡 這時(shí)在物鏡下面工作臺(tái)上就有一個(gè)圓光斑，把針 尖試 樣垂直于工作臺(tái)安裝在此光斑的中心，升高工作臺(tái)，使此針 尖的頂 尖離開物鏡約1 mm 這時(shí)眼睛觀察頂 尖部位，調(diào)節(jié)工作臺(tái)上的兩個(gè)測(cè)微絲桿．使物鏡下照明光點(diǎn)在前后左右對(duì)稱分布在此頂 尖上(這一步驟必須仔細(xì)) 隨后緩慢調(diào)節(jié)升降機(jī)構(gòu)，這時(shí)在目鏡視場(chǎng)中即會(huì)看到一個(gè)光亮點(diǎn)。這就是此頂 尖上的反射光點(diǎn) 再進(jìn)一步調(diào)節(jié)升降即可找到此針尖的像。
⑵表面光潔度很高的試樣(如顯微硬度塊)應(yīng)采用邊緣找像法。
顯微硬度試驗(yàn)中，試樣表面光潔度一般都是很高的，往往是鏡面表面上沒有明顯觀察特征，而顯微硬度計(jì)中所有高倍測(cè)量顯微鏡的景深都是非常小的，只有1～2“m 所以在調(diào)焦找像平面時(shí)，對(duì)于缺乏經(jīng)驗(yàn)的操作者是很困難的，甚至?xí)鰤奈镧R，所以操作者有的留用表面殘留痕跡來找像平面 但有時(shí)往往無(wú)殘留痕跡時(shí) 建議采用邊緣找像法。即按上述同樣方法使用照明光點(diǎn)(約為0．5～1 mm)的中心對(duì)準(zhǔn)試樣表面輪廓邊緣，則在目鏡視場(chǎng)內(nèi)看到半亮半暗的交界處即為此輪廓邊緣，隨后進(jìn)一步調(diào)節(jié)升降即可找到此表面邊緣的像。
調(diào)焦
為找到正確成像位置 應(yīng)注意要調(diào)節(jié)使壓痕邊緣清晰 而不是壓痕對(duì)角線或?qū)蔷€交點(diǎn)清晰。我們需要測(cè)量的是這個(gè)四棱角錐體坑表面棱形的對(duì)角線長(zhǎng)度。為幫助操作者掌握這一步驟，這里提出“視差判別法“ ，當(dāng)用分劃板刻線或十字交點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)壓痕對(duì)角線頂 尖時(shí)，人眼相對(duì)于目鏡左右移動(dòng)，這時(shí)如調(diào)焦不正確，即壓痕邊緣象不完全落在分劃板上，則會(huì)發(fā)現(xiàn)此邊緣相對(duì)于分劃線會(huì)左右移動(dòng)。這說明調(diào)焦不正確，如人眼相對(duì)目鏡的位置不一致，則一定存在測(cè)量誤差，此時(shí)應(yīng)進(jìn)一步調(diào)焦，直至此邊緣相對(duì)分劃線在人眼晃動(dòng)時(shí)無(wú)相對(duì)位置才為正確。
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